数字电桥简称：电桥，又称：RXLCR直流电桥，英文名称：Digital Bridge。　
　　数字电桥的产品中多年元件测试的成熟经验，运用了本领域的最新测试技术。强大的测试功能和上海日行电气有限公司优越的测量性能使RXLCRCR数字电桥挤身于国际同类先进水平。数字电桥可提供稳定的6位测试分辨率，50Hz-200kHz的频率范围、0.01V-2.0V可编程信号电平、30次/秒的测量速度、9级精细量程、恒定的30Ω或100Ω源内阻。
　　RXLCRLCR数字电桥可提供稳定的6位测试分辨率，50Hz-200kHz的频率范围、0.01V-2.0V可编程信号电平、高达30次/秒的测量速度、9级精细量程、恒定的30Ω或100Ω源内阻及灵活人性的操作方式, 可满足生产线质量保证、进货检验及实验室。
　　高精确度测量要求。该产品提供的HANDLER、GPIB及RS232C接口为仪器使用于元件自动分选系统、与计算机通讯及测试过程纪录创造了良好的条件。
　　

数字电桥原理

　　数字电桥(卷名：电工)
　　digital bridge
　　采用数字技术测量阻抗参数的电桥。数字技术是将传统的模拟量转换为数字量，再进行数字运算、传递和处理等。
　　1972年，国际上首次出现带微处理器的数字电容电桥，它将模拟电路、数字电路与计算机技术结合在一起，为阻抗测量仪器开辟了一条新路。
　　数字电桥的测量对象为阻抗元件的参数，包括交流电阻R、电感L及其品质因数Q，电容C及其损耗因数D。因此，又常称数字电桥为数字式LCR测量仪。其测量用频率自工频到约100千赫。基本测量误差为0.02％，一般均在0.1％左右。
　　数字电桥原理如图所示。图中Zx为被测阻抗，Rs为标准电阻器。切换开关K可分别测出两者的电压Ux与妧s，于是有下式：
　　此式为一相量关系式。如使用相敏检波器(PSD)分别测出妧x和妧s对应于某一参考相量的同相量分和正交分量，然后经模数转换(A/D)器将其转化为数字量，再由计算机进行复数运算，即可得到组成被测阻抗Zx的电阻与电抗值。
　　从图中的线路及工作原理可见，数字电桥只是继承了电桥传统的称呼。实际上它已失去传统经典交流电桥的组成形式，而是在更高的水平上回到以欧姆定律为基础的测量阻抗的电流表、电压表的线路和原理中。
　　数字电桥可用于计量测试部门对阻抗量具的检定与传递，以及在一般部门中对阻抗元件的常规测量。很多数字电桥带有标准接口，可根据被测值的准确度对被测元件进行自动分档；也可直接连接到自动测试系统，用于元件生产线上对产品自动检验，以实现生产过程的质量控制。80年代中期，通用的误差低于0.1％的数字电桥有几十种。数字电桥正向着更高准确度、更多功能、高速、集成化以及智能化程度方面发展。
　　性能特点：
　　阻抗测量范围最宽的自动平衡电桥技术
　　四端对端口配置有效消除测试线电磁耦合
　　基本准确度0.05%(TH2828)、0.1%(TH2828A)
　　最高达1 MHz的测量频率范围
　　交流测试信号可编程至20V(选件)
　　最高达30次/秒的测量速度
　　六位读数分辨率
　　可测量22种阻抗参数组合
　　30 Ω, 100 Ω可选信号源输出阻抗
　　10点列表扫描测试功能
　　内部可编程直流偏置± 40 V/100 mA(选件)
　　外置偏流源至40 A(配置两台TH1775)
　　电压或电流的自动电平调整(ALC)功能
　　V、I测试信号电平监视功能
　　20组内部仪器设定可供储存/读取
　　内建比较器,10档分选及计数功能
　　RS232C, GPIB和HANDLER接口
　　2 m/4 m测试电缆扩展(选件, 仅TH2828)
　　USB接口供数据外存（仅TH2828)
　　320×240点阵大型图形LCD显示
　　中英文可选操作界面
　　广泛的测量对象：
　　无源元件：电容器、电感器、磁芯、电阻器、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数测量。
　　半导体元件：电容器、电感器、磁芯、电阻器、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数测量。
　　其它元件：印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估。
　　介质材料：塑料、陶瓷和其它材料的介电常数的损耗角评估。
　　磁性材料：铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估。
　　半导体材料：半导体材料的介电常数,导电率和C-V特性。
　　液晶材料：液晶单元的介电子常数、弹性常数等C-V特性。
　　多种元件、材料特性测量能力
　　揭示电感器件的多种特性
　　TH2828/A卓越的性能和20Hz-1 MHz的测试频宽可以精确地分析磁性材料、电感器件的性能。
　　使用TH10301选件的100mA DC的偏置电流可以精确测量高频电感器件、通讯变压器，滤波器的小电流叠加性能。使用TH1775电流叠加装置，可使偏置电流达40A以精确分析高功率、大电流电感器件。
　　精确的陶瓷电容测量
　　1kHz和1MHz是陶瓷材料和电容器的主要测试频率。陶瓷电容器具有低损耗值的特征，同时其容量、损耗施加之交流信号会产生明显的变化。
　　仪器具有宽频测试能力并可提供良好的准确度，六位分辨率和自动电平控制（ALC）功能等，中以满足陶瓷材料和电容器可靠、准确的测试需要。
　　液晶单元的电容特性测量
　　电容－电压（C－Vac)特性是评价液晶材料性能的主要方法，常规仪器测量液晶单元的C－Vac特性遇到一个问题是最大测试电压不够。
　　使用TH10301选件可提供分辨率为1%及最高达20Vms的可编程测试信号电平，使它能在最佳条件下进行液晶材料的电容特性测量。
　　半导体材料和元件的测量
　　进行MOS型半导体制造工艺评价时，需要氧化层电容和衬底杂质密度这些参数，这些可从C－Vdc特性的测量结果推导出来。
　　20HZ－1　MHz的测量频宽及高达40VDC的可编程偏置电压方可方便地完成C-VDC特性的测量。
　　为了测试晶圆上的半导体器件，需要延伸电缆和探头，仪器的2m/4m延伸电缆选件可将电缆延伸的误差降至最小。
　　各种二极管、三机管、MOS管的分布电窜也是本仪器的测试内容。

             2011年5月18号